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四探针方阻电阻率测试仪
四探针电阻率/方阻测试仪,测量表面电阻,四探针电阻率/方阻测试仪 本机范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,四探针电阻率/方阻测试仪
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双电四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 手持式四探针方阻测试仪
FT-394系列手持式四探针方阻测试仪、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,
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瑞柯微 普通四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪
利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。
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四探针 方阻仪 方阻计
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T
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瑞柯微 低阻双电四探针测试仪
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瑞柯微 薄膜材料方阻测试仪FT-331
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
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四探针电阻率/方阻测试仪
FT-340系列双电测四探针电阻率方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以
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四探针方阻电阻率测试仪
FT-346双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试
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